Электронный каталог

Статья

Breese, M.B.H.
A Review of Ion Beam Induced Charge Microscopy / M.B.H.Breese, [a.o.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B : Beam Interactins with Materials and Atoms. – 2007. – Vol.264, No.2. – p.345-360. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2007.09.031. – Bibliogr.:118.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы