Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Лемешко, П.С. - Мультифотонная микроскопия как способ контроля степени очистки структур нитевидных нанокристаллов...
Лемешко, П.С. - Мультифотонная микроскопия как способ контроля степени очистки структур нитевидных нанокристаллов...
Статья
Автор: Лемешко, П.С.
Журнал технической физики. Письма: Мультифотонная микроскопия как способ контроля степени очистки структур нитевидных нанокристаллов...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Лемешко, П.С.
Журнал технической физики. Письма: Мультифотонная микроскопия как способ контроля степени очистки структур нитевидных нанокристаллов...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Лемешко, П.С.
Мультифотонная микроскопия как способ контроля степени очистки структур нитевидных нанокристаллов кремния / П.С.Лемешко, [и др.] // Журнал технической физики. Письма. – 2025. – Т. 51, № 5/6. – С. 12-14(№6). – URL: https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/59924. – Библиогр.: 11.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Лемешко, П.С.
Мультифотонная микроскопия как способ контроля степени очистки структур нитевидных нанокристаллов кремния / П.С.Лемешко, [и др.] // Журнал технической физики. Письма. – 2025. – Т. 51, № 5/6. – С. 12-14(№6). – URL: https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/59924. – Библиогр.: 11.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Привязано к:
Доступно
1 из 1