Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Замятин, Н.И. - Радиационное повреждение SiPM при облучении быстрыми нейтронами
Замятин, Н.И. - Радиационное повреждение SiPM при облучении быстрыми нейтронами
Статья
Автор: Замятин, Н.И.
Физика элементарных частиц и атомного ядра: Радиационное повреждение SiPM при облучении быстрыми нейтронами
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Замятин, Н.И.
Физика элементарных частиц и атомного ядра: Радиационное повреждение SiPM при облучении быстрыми нейтронами
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Замятин, Н.И.
Радиационное повреждение SiPM при облучении быстрыми нейтронами / Н.И.Замятин, Ю.А.Копылов, Е.А.Стрелецкая, Б.Л.Топко, А.И.Шереметьева // Физика элементарных частиц и атомного ядра. – 2024. – Т. 55, № 4. – С. 1318-1374. – URL: http://www1.jinr.ru/Pepan/v-55-4/88_Zamiatin_r.pdf. – Библиогр.: 15.
Кремниевые пиксельные фотоумножители (SiPM) получили массовое применение в различных областях научной экспериментальной аппаратуры. Как правило, применение SiPM в физических экспериментах на ускорителях предполагает наличие радиационного фона в области расположения детектирующей аппаратуры. Создаваемые радиационные дефекты в области пространственного заряда (ОПЗ) пикселей приводят к росту термогенерационного тока, являющегося источником шума. Основными и практическими вопросами для любого эксперимента являются: время жизни, темп деградации основных параметров и режимы работы SiPM, снижающие отрицательные эффекты от накопления радиационных повреждений во времени. В данной работе сделана попытка практически ответить на часть этих вопросов.
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)2024
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Замятин, Н.И.
Радиационное повреждение SiPM при облучении быстрыми нейтронами / Н.И.Замятин, Ю.А.Копылов, Е.А.Стрелецкая, Б.Л.Топко, А.И.Шереметьева // Физика элементарных частиц и атомного ядра. – 2024. – Т. 55, № 4. – С. 1318-1374. – URL: http://www1.jinr.ru/Pepan/v-55-4/88_Zamiatin_r.pdf. – Библиогр.: 15.
Кремниевые пиксельные фотоумножители (SiPM) получили массовое применение в различных областях научной экспериментальной аппаратуры. Как правило, применение SiPM в физических экспериментах на ускорителях предполагает наличие радиационного фона в области расположения детектирующей аппаратуры. Создаваемые радиационные дефекты в области пространственного заряда (ОПЗ) пикселей приводят к росту термогенерационного тока, являющегося источником шума. Основными и практическими вопросами для любого эксперимента являются: время жизни, темп деградации основных параметров и режимы работы SiPM, снижающие отрицательные эффекты от накопления радиационных повреждений во времени. В данной работе сделана попытка практически ответить на часть этих вопросов.
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)2024
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$