Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Высоких, Юрий Евгеньевич - Магнитооптический метод в составе атомно-силовой микроскопии для исследования параметров поверхно...
Высоких, Юрий Евгеньевич - Магнитооптический метод в составе атомно-силовой микроскопии для исследования параметров поверхно...
Доступно
1 из 1
1 из 1
Автореферат
Автор: Высоких, Юрий Евгеньевич
Магнитооптический метод в составе атомно-силовой микроскопии для исследования параметров поверхно... : автореф. дис... канд. физ.-мат. наук: 1.3.2
2023 г.
ISBN отсутствует
Автор: Высоких, Юрий Евгеньевич
Магнитооптический метод в составе атомно-силовой микроскопии для исследования параметров поверхно... : автореф. дис... канд. физ.-мат. наук: 1.3.2
2023 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Автореферат
В-932
Высоких, Юрий Евгеньевич.
Магнитооптический метод в составе атомно-силовой микроскопии для исследования параметров поверхности и доменной структуры тонких пленок : автореф. дис... канд. физ.-мат. наук: 1.3.2 / Юрий Евгеньевич Высоких. – М., 2023. – 22 с. : цв. ил. – Библиогр.: с. 20-22.
В-932
Высоких, Юрий Евгеньевич.
Магнитооптический метод в составе атомно-силовой микроскопии для исследования параметров поверхности и доменной структуры тонких пленок : автореф. дис... канд. физ.-мат. наук: 1.3.2 / Юрий Евгеньевич Высоких. – М., 2023. – 22 с. : цв. ил. – Библиогр.: с. 20-22.
| Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|---|
| ЦБ | Автореферат | 1 | 1 | 1 | Заказать |