Электронный каталог

Статья

Buddhanoy, M.
Total Ionizing Dose Effects on Long-Term Data Retention Characteristics of Commercial 3-D NAND Memories / M.Buddhanoy, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.3, Pt.1. – P.390-396. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3124484. – Bibliogr.:31.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$