Электронный каталог

Статья

Li, K.
Impacts of Through-Silicon Vias on Total-Ionizing-Dose Effects and Low-Frequency Noise in FinFETs / K.Li, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.5, Pt.1. – p.740-747. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3065563. – Bibliogr.:42.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$