Электронный каталог

Статья

Soderstrom, D.
Electron-Induced Upsets and Stuck Bits in SDRAMs in the Jovian Environment / D.Soderstrom, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.5, Pt.1. – p.716-723. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3068186. – Bibliogr.:27.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$