Электронный каталог

Статья

Martinella, C.
Impact of Terrestrial Neutrons on the Reliability of SiC VD-MOSFET Technologies / C.Martinella, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.5, Pt.1. – p.634-641. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3065122. – Bibliogr.:41.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$