Электронный каталог

Статья

Luo, Y.
Impact of Total Ionizing Dose on Low Energy Proton Single Event Upsets in Nanometer SRAM / Y.Luo, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.7, Pt.3. – p.1848-1853. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2922501. – Bibliogr.:20.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$