Электронный каталог

Статья

Gao, W.
Radiation Hardness Test and Characterization of a Low-Noise Front-End Readout ASIC in 180 nm CMOS Technology for Space X-Ray Survey / W.Gao, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. – 2018. – Vol.898. – p.117-124. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2018.04.048. – Bibliogr.:15.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.3а - Схемы усилителей сигналов, поступающих от детекторов. Усилители импульсов наносекундного диапазона
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$