Электронный каталог

Статья

Wang, Z.
Fixed Pattern Noise and Temporal Noise Degradation Induced by Radiation Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors / Z.Wang, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.6. – p.1264-1270. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2018.2837015. – Bibliogr.:24.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$