Электронный каталог

Статья

Ammar, M.
System-Level Analysis of the Vulnerability of Processors Exposed to Single-Event Upsets Via Probabilistic Model Checking / M.Ammar, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2017. – Vol.64, No.9. – p.2523-2530. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2017.2736061. – Bibliogr.:21.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$