Электронный каталог

Статья

Abou-Auf, A.A.
Fault Modeling and Worst Case Test Vector Generation for Flash-Based FPGAs Exposed to Total Dose / A.A.Abou-Auf, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2017. – Vol.64, No.8, Pt.1. – p.2250-2258. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2017.2687982. – Bibliogr.:20.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$