Электронный каталог

Статья

Kim, T.H.
Total Ionizing Dose Effects on a 12-Bit 40kS/s SAR ADC Designed with a Dummy Gate-Assisted n-MOSFET / T.H.Kim, H.C.Lee // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2017. – Vol.64, No.1, Pt.2. – p.648-653. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2016.2631723. – Bibliogr.:23.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.3г - Схемы амплитудного анализа. Многоканальные амплитудные анализаторы, аналого-цифровые преобразователи. Дискриминаторы формы импульсов, схемы затяжки