Электронный каталог

Статья

Cha, B.K.
X-Ray Performance of a Wafer-Scale CMOS Flat Panel Imager for Applications in Medical Imaging and Nondestructive Testing / B.K.Cha, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. – 2016. – Vol.831. – p.404-409. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2016.04.117. – Bibliogr.:10.



Спец.(статьи,препринты) = С 350 - Приложения методов ядерной физики в смежных областях