Электронный каталог -Wang, H.-B. - Single-Event Transient Sensitivity Evaluation of Clock Networks at 28-nm CMOS Technology- Absopac

Статья
Автор: Wang, H.-B.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Single-Event Transient Sensitivity Evaluation of Clock Networks at 28-nm CMOS Technology
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст

На полку

Статья

Wang, H.-B.
Single-Event Transient Sensitivity Evaluation of Clock Networks at 28-nm CMOS Technology / H.-B.Wang, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2016. – Vol.63, No.1, Pt.2. – p.385-391. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2015.2509443. – Bibliogr.:14.

Спец.(статьи,препринты) = С 344.1 - Методы и аппаратура для регистрации элементарных частиц и фотонов$

Электронный каталог

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Wang, H.-B. - Single-Event Transient Sensitivity Evaluation of Clock Networks at 28-nm CMOS Technology

Wang, H.-B. - Single-Event Transient Sensitivity Evaluation of Clock Networks at 28-nm CMOS Technology

Электронный каталог

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Wang, H.-B. - Single-Event Transient Sensitivity Evaluation of Clock Networks at 28-nm CMOS Technology

Wang, H.-B. - Single-Event Transient Sensitivity Evaluation of Clock Networks at 28-nm CMOS Technology

Привязано к: