Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Veerapandian, S. K. P. - Comparison of Silicon and 4H Silicon Carbide Patterning Using Focused Ion Beams
Veerapandian, S. K. P. - Comparison of Silicon and 4H Silicon Carbide Patterning Using Focused Ion Beams
Статья
Автор: Veerapandian, S. K. P.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B: Comparison of Silicon and 4H Silicon Carbide Patterning Using Focused Ion Beams
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Veerapandian, S. K. P.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B: Comparison of Silicon and 4H Silicon Carbide Patterning Using Focused Ion Beams
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Veerapandian, S.K.P.
Comparison of Silicon and 4H Silicon Carbide Patterning Using Focused Ion Beams / S.K.P.Veerapandian, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B. – 2015. – Vol.365, Pt.A. – p.44-49. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2015.07.079. – Bibliogr.:16.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Veerapandian, S.K.P.
Comparison of Silicon and 4H Silicon Carbide Patterning Using Focused Ion Beams / S.K.P.Veerapandian, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B. – 2015. – Vol.365, Pt.A. – p.44-49. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2015.07.079. – Bibliogr.:16.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$