Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Guo, R. - Barrier Controlled Carrier Trapping of Extended Defects in CdZnTe Detector
Guo, R. - Barrier Controlled Carrier Trapping of Extended Defects in CdZnTe Detector
![](/opacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Автор: Guo, R.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A: Barrier Controlled Carrier Trapping of Extended Defects in CdZnTe Detector
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Guo, R.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A: Barrier Controlled Carrier Trapping of Extended Defects in CdZnTe Detector
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Guo, R.
Barrier Controlled Carrier Trapping of Extended Defects in CdZnTe Detector / R.Guo, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. – 2015. – Vol.794. – p.62-66. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2015.05.020. – Bibliogr.:23.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы
Guo, R.
Barrier Controlled Carrier Trapping of Extended Defects in CdZnTe Detector / R.Guo, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. – 2015. – Vol.794. – p.62-66. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2015.05.020. – Bibliogr.:23.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы