Электронный каталог

Статья

Chen, S.
Calculating the Soft Error Vulnerabilities of Combinational Circuits by Re-Considering the Sensitive Area / S.Chen, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2014. – Vol.61,No.1, Pt.3. – p.646-653. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2014.2298889 . – Bibliogr.:26.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$