Электронный каталог

Статья

Lee, S.
Memory Reliability Analysis for Multiple Block Effect of Soft Errors / S.Lee, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2013. – Vol.60,No.2, Pt.2. – p.1384-1389. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2013.2250519. – Bibliogr.:25.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$