Электронный каталог

Статья

Iveland, J.
Direct Measurement of Auger Electrons Emitted from a Semiconductor Light-Emitting Diode under Electrical Injection: Identification of the Dominant Mechanism for Efficiency Droop / J.Iveland, [a.o.] // Physical Review Letters. – 2013. – Vol.110, No.17. – p.177406. – URL: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.110.177406. – Bibliogr.:27.



Спец.(статьи,препринты) = С 332.4 - Фотоэффект, комптон-эффект (кроме фотоядерных реакций)