Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Gong, J. - *3*2Si AMS Measurement with *DE-Q3D Method
Gong, J. - *3*2Si AMS Measurement with *DE-Q3D Method
Статья
Автор: Gong, J.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B: *3*2Si AMS Measurement with *DE-Q3D Method
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Gong, J.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B: *3*2Si AMS Measurement with *DE-Q3D Method
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Gong, J.
*3*2Si AMS Measurement with *DE-Q3D Method / J.Gong, [a.o.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B : Beam Interactins with Materials and Atoms. – 2011. – Vol.269, No.23. – p.2745-2749. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2011.08.026. – Bibliogr.:15.
Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов
Gong, J.
*3*2Si AMS Measurement with *DE-Q3D Method / J.Gong, [a.o.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B : Beam Interactins with Materials and Atoms. – 2011. – Vol.269, No.23. – p.2745-2749. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2011.08.026. – Bibliogr.:15.
Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов