Электронный каталог

Статья

Li, L.
Joint Redundant Residue Number Systems and Module Isolation for Mitigating Single Event Multiple Bit Upsets in Datapath / L.Li, J.Hu // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2010. – Vol.57,No.6, Pt.2. – p.3779-3786. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2010.2082000. – Bibliogr.:27.



Спец.(статьи,препринты) = Ц 848 - Технология производства электронной аппаратуры