Электронный каталог

Статья

Zhang, L.
Microwave Atomic Force Microscopy Imaging for Nanometer-Scale Electrical Property Characterization / L.Zhang, [a.o.] // Review of Scientific Instruments. – 2010. – Vol.81, No.12. – p.123708. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.3525058. – Bibliogr.:32.



Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$