Электронный каталог

Статья

Hayton, J.
Atomic Force Microscopy Imaging Using a Tip-on-Chip: Opening the Door to Integrated Near Field Nanotools / J.Hayton, [a.o.] // Review of Scientific Instruments. – 2010. – Vol.81, No.9. – p.093707. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.3477996. – Bibliogr.:23.



Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$