Электронный каталог

Статья

Tong, W.M.
Radiation Hardness of TiO&sub(2) Memristive Junctions / W.M.Tong, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2010. – Vol.57,No.3, Pt.3. – p.1640-43. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2010.2045768. – Bibliogr.:20.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$