Электронный каталог

Статья

Fourches, N.T.
Device Simulation of Monolithic Active Pixel Sensors: Radiation Damage Effects / N.T.Fourches // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2009. – Vol.56,No.6, Pt.2. – p.3743-3751. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2009.2031540. – Bibliogr.:37.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$