Электронный каталог

Статья

Takahashi, Y.
High-Resolution Diffraction Microscopy Using the Plane-Wave Field of a Nearly Diffraction Limited Focused x-Ray Beam / Y.Takahashi, [a.o.] // Physical Review B : Condensed Matter and Materials Physics. – 2009. – Vol.80, No.5. – p.054103. – URL: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.80.054103. – Bibliogr.:42.



Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей