Электронный каталог

Статья

Brison, J.
Cesium/Xenon Co-Sputtering at Different Energies During ToF-SIMS Depth Profiling / J.Brison, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B : Beam Interactins with Materials and Atoms. – 2008. – Vol.266, No.24. – p.5159-65. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2008.09.021. – Bibliogr.:48.



Спец.(статьи,препринты) = С 332.1 - Взаимодействие электрона с электроном (кроме параобразования) и атомами. Ионизация атомов частицами