Электронный каталог

Статья

Kim, S.
Robust Ohmic Contact Junctions between Metallic Tips and Multiwalled Carbon Nanotubes for Scanned Probe Microscopy / S.Kim, [a.o.] // Review of Scientific Instruments. – 2008. – Vol.79, No.10, Pt.1. – p.103702. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.2987696. – Bibliogr.:15.



Спец.(статьи,препринты) = С 325.7 - Фуллерены (Сn). Атомные кластеры