Электронный каталог

Статья

Bonanno, P.L.
Intrafacet Migration Effects in InGaN/GaN Structures Grown on Triangular GaN Ridges Studied by Submicron Beam X-Ray Diffraction / P.L.Bonanno, [a.o.] // Applied Physics Letters. – 2008. – Vol.92, No.12. – p.123106. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.2901142. – Bibliogr.:13.



Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей