Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
Печать списка
Доступно
1 из 1
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
Рубрика
- Название:
- С 349 - Дозиметрия и физика защиты
- См. также:
- Dosimetry and Protection Physics. Radiation Effects. Biological Effects of Radiations
- Название:
- С 349 а - Дозиметрия различных видов излучения. Абсолютные измерения потоков
- Название:
- С 349 б - Дозиметрическая и радиометрическая аппаратура
- Название:
- С 349 в - Защита от излучений. Защитные приспособления и материалы. Дозиметрическая характеристика излучателей
- Название:
- С 349 г - Радиоактивные загрязнения и активация воздуха, газов, воды и окружающих материалов. Дезактивация
- Название:
- С 349 д - Биологическое действие излучений$
- Название:
- С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
Связанные описания:
Статья
James, R. H.
Evaluation of the Potential Optical Radiation Hazards with Led Lamps Intended for Home Use
б.г.
ISBN отсутствует
James, R. H.
Evaluation of the Potential Optical Radiation Hazards with Led Lamps Intended for Home Use
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Lingis, D.
Evaluation of the Primary Displacement Damage in the Neutron Irradiated RBMK-1500 Graphite
б.г.
ISBN отсутствует
Lingis, D.
Evaluation of the Primary Displacement Damage in the Neutron Irradiated RBMK-1500 Graphite
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Giordano, C.
Evaluation of the Radiation Dose to the Hands of Orthopaedic Surgeons During Fluoroscopy Using St...
б.г.
ISBN отсутствует
Giordano, C.
Evaluation of the Radiation Dose to the Hands of Orthopaedic Surgeons During Fluoroscopy Using St...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Hofsass, H.
Evaluation of the Radiation Hazard for Ion-Beam Analysis with MeV External Proton Beams (X-IBA)
б.г.
ISBN отсутствует
Hofsass, H.
Evaluation of the Radiation Hazard for Ion-Beam Analysis with MeV External Proton Beams (X-IBA)
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Pugliesi, R.
Evaluation of the Sensitivity for the Track-Etch Neutron Radiography Method
б.г.
ISBN отсутствует
Pugliesi, R.
Evaluation of the Sensitivity for the Track-Etch Neutron Radiography Method
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Lindoso, A.
Evaluation of the Suitability of NEON SIMD Microprocessor Extensions Under Proton Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Lindoso, A.
Evaluation of the Suitability of NEON SIMD Microprocessor Extensions Under Proton Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Carna, M.
Evaluation of the Timepix Chip Radiation Hardness Using a *6*0Co Source
б.г.
ISBN отсутствует
Carna, M.
Evaluation of the Timepix Chip Radiation Hardness Using a *6*0Co Source
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ibrayeva, A.
Evaluation of Threshold Conditions for Latent Track Formation in Nanocrystalline Y&sub(2)Ti&sub(2...
б.г.
ISBN отсутствует
Ibrayeva, A.
Evaluation of Threshold Conditions for Latent Track Formation in Nanocrystalline Y&sub(2)Ti&sub(2...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Kramer, G. H.
Evaluation of Two Commercially Available Portal Monitors for Emergency Response
б.г.
ISBN отсутствует
Kramer, G. H.
Evaluation of Two Commercially Available Portal Monitors for Emergency Response
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Benny, P. G.
Evaluation of Various Operational and Dosimetric Parameters of an Industrial Electron Beam Accele...
б.г.
ISBN отсутствует
Benny, P. G.
Evaluation of Various Operational and Dosimetric Parameters of an Industrial Electron Beam Accele...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Su, S.
Evidence for Adaptive Response in a Molecular Epidemiological Study of the Inhabitants of a High ...
б.г.
ISBN отсутствует
Su, S.
Evidence for Adaptive Response in a Molecular Epidemiological Study of the Inhabitants of a High ...
б.г.
ISBN отсутствует
Доступно
1 из 1
Препринты
Bachaoui, S.
Evidence of a Continuous Trap Distribution in the Alpha-Alumina D' Peaks
ISBN отсутствует
Bachaoui, S.
Evidence of a Continuous Trap Distribution in the Alpha-Alumina D' Peaks
Серия: IC
IC, 2007 г.ISBN отсутствует
Статья
Privat, A.
Evidence of Interface Trap Build-Up in Irradiated 14-nm Bulk FinFET Technologies
б.г.
ISBN отсутствует
Privat, A.
Evidence of Interface Trap Build-Up in Irradiated 14-nm Bulk FinFET Technologies
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Velazco, R.
Evidence of the Robustness of a COTS Soft-Error Free SRAM to Neutron Radiation
б.г.
ISBN отсутствует
Velazco, R.
Evidence of the Robustness of a COTS Soft-Error Free SRAM to Neutron Radiation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Wood, D.
Evolution and Impact of Defects in a p-Channel CCD After Cryogenic Proton-Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Wood, D.
Evolution and Impact of Defects in a p-Channel CCD After Cryogenic Proton-Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Tang, Y.
Evolution and Mechanism of P-GaN Films Under Proton Irradiation and Its Influence on Electronic D...
б.г.
ISBN отсутствует
Tang, Y.
Evolution and Mechanism of P-GaN Films Under Proton Irradiation and Its Influence on Electronic D...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Diver, A.
Evolution of Amorphous Structure Under Irradiation: Zircon Case Study
б.г.
ISBN отсутствует
Diver, A.
Evolution of Amorphous Structure Under Irradiation: Zircon Case Study
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Li, X.
Evolution of Deep Level Centers in NPN Transistors Following 35 MeV Si Ion Irradiations With High...
б.г.
ISBN отсутствует
Li, X.
Evolution of Deep Level Centers in NPN Transistors Following 35 MeV Si Ion Irradiations With High...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Onofri, C.
Evolution of Extended Defects in Polycrystalline UO&sub(2) under Heavy Ion Irradiation: Combined...
б.г.
ISBN отсутствует
Onofri, C.
Evolution of Extended Defects in Polycrystalline UO&sub(2) under Heavy Ion Irradiation: Combined...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Dong, L.
Evolution of Ionization-Induced Defects in GLPNP Bipolar Transistors at Different Temperatures
б.г.
ISBN отсутствует
Dong, L.
Evolution of Ionization-Induced Defects in GLPNP Bipolar Transistors at Different Temperatures
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Bizyukov, I.
Evolution of the 2D Surface Structure of a Silicon Pitch Grating Under Argon Ion Bombardment: Exp...
б.г.
ISBN отсутствует
Bizyukov, I.
Evolution of the 2D Surface Structure of a Silicon Pitch Grating Under Argon Ion Bombardment: Exp...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Fleetwood, D. M.
Evolution of Total Ionizing Dose Effects in MOS Devices with Moore’s Law Scaling
б.г.
ISBN отсутствует
Fleetwood, D. M.
Evolution of Total Ionizing Dose Effects in MOS Devices with Moore’s Law Scaling
б.г.
ISBN отсутствует