Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Jesch, R. L. - Characterization of a High Frequency Probe Assembly for Integrated Circuit Measurements
Jesch, R. L. - Characterization of a High Frequency Probe Assembly for Integrated Circuit Measurements
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор: Jesch, R. L.
Characterization of a High Frequency Probe Assembly for Integrated Circuit Measurements
Серия: NBS. Technical Note
Издательство: NBS, 1975 г.
ISBN отсутствует
Автор: Jesch, R. L.
Characterization of a High Frequency Probe Assembly for Integrated Circuit Measurements
Серия: NBS. Technical Note
Издательство: NBS, 1975 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
Ц73 J-44
Jesch, R.L.
Characterization of a High Frequency Probe Assembly for Integrated Circuit Measurements / R.L.Jesch, C.A.Hoer. – Washington : NBS, 1975. – 51 p. – (NBS. Technical Note ; 663). – Bibliogr.4.
Ц73
Индексный (книги) = Ц 73 - Радиоаппаратура и радиодетали
Ц73 J-44
Jesch, R.L.
Characterization of a High Frequency Probe Assembly for Integrated Circuit Measurements / R.L.Jesch, C.A.Hoer. – Washington : NBS, 1975. – 51 p. – (NBS. Technical Note ; 663). – Bibliogr.4.
Ц73
Индексный (книги) = Ц 73 - Радиоаппаратура и радиодетали
| Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|---|
| ЗИЛ | 1 | 1 | 1 | Заказать |