Электронный каталог

Статья

Szlachetko, J.
High-Resolution Study of the X-Ray Resonant Raman Scattering Process around the 1s Absorption Edge for Aluminium, Silicon, and Their Oxides / J.Szlachetko, [et al.] // Physical Review A : Atomic,Molecular,and Optical Physics. – 2007. – Vol.75, No.2, Pt.A. – p.022512. – URL: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevA.75.022512. – Bibliogr.:44.



Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей