Электронный каталог

Статья

Valamontes, E.S.
Scanning X-Ray Microfluorescence in a SEM for the Analysis of Very Thin Overlayers / E.S.Valamontes, [a.o.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B : Beam Interactins with Materials and Atoms. – 2007. – Vol.260, No.2. – p.628-632. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.20076.03.089. – Bibliogr.:19.



Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов