Электронный каталог

Статья

Niu, R.M.
Thickness Dependent Critical Strain in Submicron Cu Films Adherent to Polymer Substrate / R.M.Niu, [et al.] // Applied Physics Letters. – 2007. – Vol.90, No.16. – p.161907. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.2722684. – Bibliogr.:19.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$