Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Иванов, А.М. - Нестабильность характеристик SiC-детекторов, подвергнутых экстремальному воздействию ядерных частиц
Иванов, А.М. - Нестабильность характеристик SiC-детекторов, подвергнутых экстремальному воздействию ядерных частиц
Статья
Автор: Иванов, А.М.
Физика и техника полупроводников: Нестабильность характеристик SiC-детекторов, подвергнутых экстремальному воздействию ядерных частиц
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Иванов, А.М.
Физика и техника полупроводников: Нестабильность характеристик SiC-детекторов, подвергнутых экстремальному воздействию ядерных частиц
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Иванов, А.М.
Нестабильность характеристик SiC-детекторов, подвергнутых экстремальному воздействию ядерных частиц / А.М.Иванов, [и др.] // Физика и техника полупроводников. – 2007. – Т.41,No.1. – с.117-121. – URL: http://www.ioffe.rssi.ru/journals/ftp/2007/01/p117-121.pdf. – Библиогр.:14.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1 - Методы и аппаратура для регистрации элементарных частиц и фотонов$
Иванов, А.М.
Нестабильность характеристик SiC-детекторов, подвергнутых экстремальному воздействию ядерных частиц / А.М.Иванов, [и др.] // Физика и техника полупроводников. – 2007. – Т.41,No.1. – с.117-121. – URL: http://www.ioffe.rssi.ru/journals/ftp/2007/01/p117-121.pdf. – Библиогр.:14.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1 - Методы и аппаратура для регистрации элементарных частиц и фотонов$
Привязано к:
Доступно
1 из 1