Электронный каталог

Статья

Si-based Materials for Advanced Microelectronic Devices: Synthesis, Defects and Diffusion : Proc. of the E-MRS IUMRS ICEM 2006 Spring Meeting - Symposium U, Nice, France, May 29 - June 2, 2006 // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B : Beam Interactins with Materials and Atoms. – 2006. – Vol.253, No.1/2. – URL: http://www.sciencedirect.com/science?_ob=PublicationURL&_tockey=%23TOC%235315%232006%23997469998%23638277%23FLA%23&_cdi=5315&_pubType=J&view=c&_auth=y&_acct=C000057066&_version=1&_urlVersion=0&_userid=2361977&md5=f61e8d2967ab518bd250066785d218f4.

04


Индексный (книги) = Ц 72 - Электроника. Промышленная электроника. Теоретические основы. Физические электронные приборы
Географический = Nice, France