Электронный каталог

Книга
С33а(07) Б-874

Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : Учеб. пособие для студ. / Д.Брандон, У.Каплан ; Ред. пер. с англ.: С.Л.Баженов ; Доп.: О.В.Егорова. – М. : Техносфера, 2006. – 377 с. : ил. – (Мир материалов и технологий). – URL: http://www.technosphera.ru/66.html. – Библиогр.: в конце гл. – Пер. изд.: Microstructural Characterization of Materials/ Brandon D., Kaplan W.D.- Chichester etc: John Wiley & Sons, 1999. – ISBN 5-948360-18-0.

С33а(07)
07


Индексный (книги) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология
Ключевых слов = нанотехнология
Ключевых слов = кристаллические структуры
Ключевых слов = электронные микроскопы
Ключевых слов = оптическая микроскопия
Ключевых слов = электронная микроскопия
Ключевых слов = рентгеновский микроанализ
Ключевых слов = рентгеновская спектроскопия
Ключевых слов = стереология
Ключевых слов = материаловедение