Электронный каталог

Книга
С36 Б-912

Бургуэн, Жак.
Точечные дефекты в полупроводниках: Эксперим. аспекты / Жак Бургуэн, Мишель Ланно ; Пер. с англ.: Ю.М.Гальперин, [и др.] ; Ред. пер. с англ.: В.Л.Гуревич. – М. : Мир, 1985. – 304 с. : ил. – Библиогр.: с.289-300. – Пер. изд.: Point defects in semiconductors II/ J. Bourgoin, M. Lannoo (Berlin etc., 1983 ).

С36


Индексный (книги) = С 36.71 - Физика полупроводников. Структура полупроводников. Кристаллическая решетка полупроводников. Структурный анализ, дефекты, твердые растворы полупроводников. Аморфные полупроводники. Тонкие слои полупроводников. Радиационные эффекты в полупроводниках. Механические свойства полупроводников. Электрические и магнитные свойства полупроводников. Тепловые свойства полупроводников. Кинетические явления в полупроводниках (фазовые равновесия, фазовые превращения, теплоемкость, теплопроводность, диффузия и самодиффузия)