Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Estrada, J. - Testing of the Trip Chip Running at 132 nsec Using a Modified AFE Board
Estrada, J. - Testing of the Trip Chip Running at 132 nsec Using a Modified AFE Board
Доступно
1 из 1
1 из 1
Препринты
Автор: Estrada, J.
Testing of the Trip Chip Running at 132 nsec Using a Modified AFE Board
Серия: FERMILAB-TM
Издательство: FERMILAB, 2002 г.
ISBN отсутствует
Автор: Estrada, J.
Testing of the Trip Chip Running at 132 nsec Using a Modified AFE Board
Серия: FERMILAB-TM
Издательство: FERMILAB, 2002 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Препринты
067513
Estrada, J.
Testing of the Trip Chip Running at 132 nsec Using a Modified AFE Board / J.Estrada, [a.o.]. – Batavia : FERMILAB, 2002. – 32p. : il. – (FERMILAB-TM ; 2227). – URL: http://library.fnal.gov/archive/test-tm/2000/fermilab-tm-2227.shtml. – Bibliogr.:p.32.
3
Спец.(статьи,препринты) = С 344.3 - Ядерная электроника$
067513
Estrada, J.
Testing of the Trip Chip Running at 132 nsec Using a Modified AFE Board / J.Estrada, [a.o.]. – Batavia : FERMILAB, 2002. – 32p. : il. – (FERMILAB-TM ; 2227). – URL: http://library.fnal.gov/archive/test-tm/2000/fermilab-tm-2227.shtml. – Bibliogr.:p.32.
3
Спец.(статьи,препринты) = С 344.3 - Ядерная электроника$
| Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|---|
| ЗИЛ | 1 | 1 | 1 | Заказать |