Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Peeva, A. - Microstructural Characterization and Engineering of Defects in Silicon
Peeva, A. - Microstructural Characterization and Engineering of Defects in Silicon
Доступно
1 из 1
1 из 1
Препринты
Автор: Peeva, A.
Microstructural Characterization and Engineering of Defects in Silicon
Серия: FZR
Издательство: FZR, 2003 г.
ISBN отсутствует
Автор: Peeva, A.
Microstructural Characterization and Engineering of Defects in Silicon
Серия: FZR
Издательство: FZR, 2003 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Препринты
3
Peeva, A.
Microstructural Characterization and Engineering of Defects in Silicon / A.Peeva. – Dresden : FZR, 2003. – 112p. : il. – (FZR, ISSN 1437-322X ; 387). – Bibliogr.:p.99-103. – ISSN 1437-322X.
3
Спец.(статьи,препринты) = С 342 - Прохождение частиц и гамма-квантов через вещество
3
Peeva, A.
Microstructural Characterization and Engineering of Defects in Silicon / A.Peeva. – Dresden : FZR, 2003. – 112p. : il. – (FZR, ISSN 1437-322X ; 387). – Bibliogr.:p.99-103. – ISSN 1437-322X.
3
Спец.(статьи,препринты) = С 342 - Прохождение частиц и гамма-квантов через вещество
| Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|---|
| ЗИЛ | 1 | 1 | 1 | Заказать |