Электронный каталог

Статья

Kaschieva, S.
Electron and *g-Irradiation of Ion Implanted MOS Structures with Different Oxide Thickness / S.Kaschieva, S.N.Dmitriev, Ch.Angelov // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B : Beam Interactins with Materials and Atoms. – 2003. – Vol.206. – p.452-456. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/S0168-583X(03)00792-4. – Bibliogr.:16.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)2003