Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Воробьева, М.Ю. - Оценка вклада *1*4С, содержащегося на поверхности детекторов, в фон в низкофоновых экспериментах ...
Воробьева, М.Ю. - Оценка вклада *1*4С, содержащегося на поверхности детекторов, в фон в низкофоновых экспериментах ...

Статья
Автор: Воробьева, М.Ю.
Журнал технической физики. Письма: Оценка вклада *1*4С, содержащегося на поверхности детекторов, в фон в низкофоновых экспериментах ...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Воробьева, М.Ю.
Журнал технической физики. Письма: Оценка вклада *1*4С, содержащегося на поверхности детекторов, в фон в низкофоновых экспериментах ...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Воробьева, М.Ю.
Оценка вклада *1*4С, содержащегося на поверхности детекторов, в фон в низкофоновых экспериментах методом окситермографии / М.Ю.Воробьева, Б.К.Зуев, Д.В.Философов, Д.В.Пономарев, Н.А.Мирзаев, Д.В.Караиванов // Журнал технической физики. Письма. – 2025. – Т. 51, № 15/16. – С. 39-41(№16). – URL: https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/60933. – Библиогр.: 8.
Предложен новый способ оценки содержания &sup(14)С на поверхности материалов, используемых в низкофоновых экспериментах. В основе способа окситермографическое определение количества углеродсодержащих веществ на поверхности исследуемого материала. Метод позволяет оценивать долю &sup(14)С на поверхности исходя из его процентного содержания в общем углероде. Апробация способа проходила в двух различных лабораторных помещениях ОИЯИ и Университета "Дубна"
Спец.(статьи,препринты) = С 349 г - Радиоактивные загрязнения и активация воздуха, газов, воды и окружающих материалов. Дезактивация
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)2025
Воробьева, М.Ю.
Оценка вклада *1*4С, содержащегося на поверхности детекторов, в фон в низкофоновых экспериментах методом окситермографии / М.Ю.Воробьева, Б.К.Зуев, Д.В.Философов, Д.В.Пономарев, Н.А.Мирзаев, Д.В.Караиванов // Журнал технической физики. Письма. – 2025. – Т. 51, № 15/16. – С. 39-41(№16). – URL: https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/60933. – Библиогр.: 8.
Предложен новый способ оценки содержания &sup(14)С на поверхности материалов, используемых в низкофоновых экспериментах. В основе способа окситермографическое определение количества углеродсодержащих веществ на поверхности исследуемого материала. Метод позволяет оценивать долю &sup(14)С на поверхности исходя из его процентного содержания в общем углероде. Апробация способа проходила в двух различных лабораторных помещениях ОИЯИ и Университета "Дубна"
Спец.(статьи,препринты) = С 349 г - Радиоактивные загрязнения и активация воздуха, газов, воды и окружающих материалов. Дезактивация
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)2025
На полку