Электронный каталог

Статья

Будаговский, И.А.
Анализ фемтосекундной модификации тонких пленок a-Ge&sub(2)Sb&sub(2)Te&sub(5) методом XZ-сканирования / И.А.Будаговский, [и др.] // Оптика и спектроскопия. – 2024. – Т. 132, № 1. – С. 27-33. – URL: https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/57545. – Библиогр.: 24.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$
Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей