Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Suvorov, A. L. - Study of Surface and Volume Defects in Carbon and Silicon by Methods of Field Ion and Scanning Tu...
Suvorov, A. L. - Study of Surface and Volume Defects in Carbon and Silicon by Methods of Field Ion and Scanning Tu...
Доступно
1 из 1
1 из 1
Препринты
Автор: Suvorov, A. L.
Study of Surface and Volume Defects in Carbon and Silicon by Methods of Field Ion and Scanning Tu...
Серия: ITEP
Издательство: ITEP, 1998 г.
ISBN отсутствует
Автор: Suvorov, A. L.
Study of Surface and Volume Defects in Carbon and Silicon by Methods of Field Ion and Scanning Tu...
Серия: ITEP
Издательство: ITEP, 1998 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Препринты
24-98
Suvorov, A.L.
Study of Surface and Volume Defects in Carbon and Silicon by Methods of Field Ion and Scanning Tunneling Microscopy / A.L.Suvorov, Yu.N.Cheblukov, N.E.Lazarev, A.F.Bobkov, M.O.Popov, V.P.Babaev. – Moscow : ITEP, 1998. – 12 p. – (ITEP ; 24-98). – Bibliogr.: p.12.
24-98
Suvorov, A.L.
Study of Surface and Volume Defects in Carbon and Silicon by Methods of Field Ion and Scanning Tunneling Microscopy / A.L.Suvorov, Yu.N.Cheblukov, N.E.Lazarev, A.F.Bobkov, M.O.Popov, V.P.Babaev. – Moscow : ITEP, 1998. – 12 p. – (ITEP ; 24-98). – Bibliogr.: p.12.
| Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|---|
| ЗИЛ | Препринты отечеств. | 1 | 1 | 1 | Заказать |