Электронный каталог

Статья

Волковский, Ю.А.
Сравнительная рентгеновская дифрактометрия дефектной структуры эпитаксиальных пленок ZnO, выращенных методом магнетронного осаждения на подложках Al&sub(2)O&sub(3) ориентации (0001) в неоднородном электрическом поле / Ю.А.Волковский, [и др.] // Кристаллография. – 2023. – Т.68, №2. – С.180-188. – URL: https://doi.org/10.1134/S1063774523020219. – Библиогр.:25.



Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей