Электронный каталог

Статья

Дунаевский, М.С.
Тестовые структуры на базе SiC с тонкими слоями графена для определения аппаратной функции для Кельвин-зонд-микроскопии / М.С.Дунаевский, [и др.] // Журнал технической физики. Письма. – 2023. – Т.49, №3/4. – С.24-27(№4). – URL: https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/54522. – Библиогр.:8.



Спец.(статьи,препринты) = С 325.7 - Фуллерены (Сn). Атомные кластеры