Электронный каталог

Статья

Gao, Y.
Investigation of Negative Bias Effect on Radiation Hardening for Double SOI Technology / Y.Gao, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.4, Pt.2. – P.908-914. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3154373. – Bibliogr.:23.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$