Электронный каталог

Статья

Bonaldo, S.
TID Effects in Highly Scaled Gate-All-Around Si Nanowire CMOS Transistors Irradiated to Ultrahigh Doses / S.Bonaldo, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.7, Pt.1. – P.1444-1452. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3142385. – Bibliogr.:53.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$